[发明专利]一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法

摘要

本发明提供一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法，属于电子产品故障诊断和测试技术领域。包括：获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据；对每个测试点获得的样本数据进行聚类，获得每个测试点下的聚类数目以及聚类中心，建立离散化的多值D矩阵；同时，构建离散化的测试向量；计算与离散化多值D矩阵中每一行的曼哈顿距离，找到与测试向量的曼哈顿距离最短的D矩阵的行，该行对应的状态就是根据离散化的测试向量所诊断出的电子产品的状态。本发明利用K‑means聚类对单个测试点数据进行离散化处理，构建多值D矩阵，通过计算测试向量与多值D矩阵的曼哈顿距离实现故障诊断，提高了方法的应用可行性。

主权项

1.一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法，在电子产品的电路板上设有故障注入接口和测试点，通过硬件的故障注入接口或者仿真手段注入各种故障，在测试点采集获取样本数据；其特征在于，所述的故障诊断方法包括如下步骤：步骤1，建立离散化的多值D矩阵，包括：步骤1.1，获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据；步骤1.2，对每个测试点获得的样本数据进行聚类，获得每个测试点下的聚类数目以及聚类中心；步骤1.3，对每个测试点的所有聚类中心，按照值从小到大的顺序用1到n的整数来重新表示，实现离散化处理，然后建立离散化的多值D矩阵；离散化的多值D矩阵中，行表示状态，列表示测试点样本数据的类别；矩阵D中的元素d_ij表示第i个状态下第j个测试点的数据类别，数据类别用离散化后的整数表示；步骤2，从测试点获取电子产品的测试数据，根据每个测试点的样本数据的聚类数目以及聚类中心，依据步骤1.3的离散化处理方式，构建离散化的测试向量；步骤3，对步骤2离散化的测试向量，计算与离散化多值D矩阵中每一行的曼哈顿距离，找到与测试向量的曼哈顿距离最短的D矩阵的行，该行对应的状态就是根据离散化的测试向量所诊断出的电子产品的状态。