[发明专利]单轴双台共台面振动试验系统振动角度校准装置及方法在审
| 申请号： | 201811436462.2 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN109341841A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 田晓涛;田芳怡;陈继刚;祝卿;翁俊;罗晓平 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
| 主分类号： | G01H9/00 | 分类号： | G01H9/00;G01B11/26;G01M7/02 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供单轴双台共台面振动试验系统旋转振动角度校准装置，包括：差分式激光振动测量系统，激光头工装夹具，包括：支架；导轨，通过减震垫与所述支架连接；滑块，装配在导轨上；位移微调机构，安装在滑块上；激光探头固定夹具，安装在位移微调机构上；位移传感器，固定在导轨上；定位板，放置在单轴双台共台面振动试验系统的振动台面上。本发明还提供对应的校准方法，本发明通过研制工装夹具实现了试验系统的非接触测量，采用差分式激光振动测量系统实现振动位移差的直接测量，提高试验系统测量准确度，工装夹具进行激光头测量位置的粗调和微调，使激光能够精确地入射到所需测量的位置，实现单轴双台共台面振动试验系统耦合振动角度的量值溯源。 | ||
| 搜索关键词： | 振动试验系统 台面 单轴 工装夹具 导轨 位移微调机构 振动测量系统 激光 角度校准 试验系统 差分式 激光头 滑块 测量 非接触测量 位移传感器 测量位置 固定夹具 激光探头 量值溯源 旋转振动 振动位移 支架连接 直接测量 耦合振动 准确度 定位板 减震垫 振动台 校准 入射 支架 微调 调和 装配 | ||
【主权项】：
1.单轴双台共台面振动试验系统旋转振动角度校准装置，其特征在于，包括：差分式激光振动测量系统，其包括激光头；激光头工装夹具，包括：支架；导轨，通过减震垫与所述支架连接；滑块，装配在所述导轨上，对所述激光头移动位移进行粗调；位移微调机构，安装在所述滑块上；激光探头固定夹具，安装在所述位移微调机构上；位移传感器，固定在所述导轨上；定位板，放置在单轴双台共台面振动试验系统的振动台面上。
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