[发明专利]陶瓷低温活性金属化用膏体、陶瓷金属化方法及依据该方法制备的真空电子器件有效

专利信息
申请号: 201811438469.8 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109384474B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 黄晓猛;陈立建;张国清;韩鹏;焦磊;王冉;王峰 申请(专利权)人: 北京有色金属与稀土应用研究所
主分类号: C04B41/88 分类号: C04B41/88
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘茵
地址: 100012 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种陶瓷低温活性金属化用膏体、陶瓷金属化方法及依据该方法制备的真空电子器件。膏体的组成为:Mo粉3.0~5.0wt.%,粘结剂8.0~15.0wt.%和AgCuInTiLi合金粉为余量。其制备方法包括:制备陶瓷低温活性金属化用膏体,将膏体涂覆在陶瓷表面,烘干陶瓷除去粘结剂和真空烧结。陶瓷活性金属化处理后,可在表面生成厚度40μm~60μm的金属过渡层,可焊性得到改善,焊着率及焊接强度显著提高。该处理方法适用于氧化铝、氧化锆、氧化铍、氮化硼等多种陶瓷金属化,方法简单,操作流程短,成本低,利于批量生产。
搜索关键词: 陶瓷 低温 活性 金属 化用 金属化 方法 依据 制备 真空 电子器件
【主权项】:
1.一种陶瓷低温活性金属化用膏体,其特征在于,其组成为:Mo粉3.0~5.0wt.%,粘结剂8.0~15.0wt.%和AgCuInTiLi合金粉余量;该AgCuInTiLi合金粉的组成为:Cu 18.5~27.5wt.%,In 18.0~22.0wt.%,Ti3.0~5.0wt.%,Li1.0~2.0wt.%和Ag余量。
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