[发明专利]一种AlN模板、外延片结构及制造方法在审

专利信息
申请号: 201811446403.3 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109638117A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 张奕;董彬忠;王江波 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/02;H01L33/12
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种AlN模板、外延片结构及制造方法,属于半导体技术领域。所述AlN模板包括衬底以及设置在所述衬底上的AlN薄膜,所述AlN薄膜包括依次层叠的多个AlN子层,多个所述AlN子层的晶格常数沿多个所述AlN子层的层叠方向逐渐增大。由于GaN材料的晶格常数大于AlN材料的晶格常数,因此多个AlN子层的晶格常数逐渐增大可以使得靠近GaN外延层的AlN子层的晶格常数与GaN外延层的晶格常数更匹配,从而可以减少在AlN模板上生长的GaN外延层内的压应力,提升LED的发光效率。
搜索关键词: 晶格常数 子层 外延片结构 逐渐增大 衬底 半导体技术领域 层叠方向 发光效率 依次层叠 压应力 匹配 制造 生长
【主权项】:
1.一种AlN模板,所述AlN模板包括衬底以及设置在所述衬底上的AlN薄膜,其特征在于,所述AlN薄膜包括依次层叠的多个AlN子层,多个所述AlN子层的晶格常数沿多个所述AlN子层的层叠方向逐渐增大。
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