[发明专利]p-BN/i-AlGaN/n-AlGaN的紫外探测器及制作方法有效

专利信息
申请号: 201811447507.6 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109585592B 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 周小伟;吴金星;王燕丽;李培咸;许晟瑞;马晓华;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/18;H01L31/0304
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;韦全生
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种p‑BN/i‑AlGaN/n‑AlGaN的紫外探测器及其制作方法,主要解决现有AlGaN基紫外探测器的响应时间较长、量子效率较低以及光谱响应度较差的问题。其自下而上包括:衬底、AlN成核层、AlN本征层、AlGaN本征层、n型AlGaN层、n电极、i型AlGaN层、P型BN层和p电极,其特征在于,p型BN层采用厚度为60‑100nm的Mg掺杂的纤锌矿氮化硼材料,掺杂的浓度为5×1017‑1×1019cm‑3以上的Mg掺杂的纤锌矿氮化硼材料。本发明由于P型氮化硼能够有效地提供空穴,使得探测器的响应时间变短、量子效率以及光谱响应度提升,可用于光通信、生化分析、臭氧检测和公安刑侦。
搜索关键词: bn algan 紫外 探测器 制作方法
【主权项】:
1.一种p‑BN/i‑AlGaN/n‑AlGaN的紫外探测器,自下而上包括:衬底(1)、AlN成核层(2)、AlN本征层(3)、AlGaN本征层(4)、n型AlGaN层(5)、n电极(6)、i型AlGaN层(7)、P型BN层(8)和p电极(9),其特征在于,p型BN层(8)采用厚度为60‑100nm的Mg掺杂的纤锌矿氮化硼材料,掺杂的浓度为5×1017‑1×1019cm‑3。
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