[发明专利]p-BN/i-AlGaN/n-AlGaN的紫外探测器及制作方法有效
申请号: | 201811447507.6 | 申请日: | 2018-11-29 |
公开(公告)号: | CN109585592B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 周小伟;吴金星;王燕丽;李培咸;许晟瑞;马晓华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/18;H01L31/0304 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;韦全生 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种p‑BN/i‑AlGaN/n‑AlGaN的紫外探测器及其制作方法,主要解决现有AlGaN基紫外探测器的响应时间较长、量子效率较低以及光谱响应度较差的问题。其自下而上包括:衬底、AlN成核层、AlN本征层、AlGaN本征层、n型AlGaN层、n电极、i型AlGaN层、P型BN层和p电极,其特征在于,p型BN层采用厚度为60‑100nm的Mg掺杂的纤锌矿氮化硼材料,掺杂的浓度为5×10 |
||
搜索关键词: | bn algan 紫外 探测器 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种p‑BN/i‑AlGaN/n‑AlGaN的紫外探测器,自下而上包括:衬底(1)、AlN成核层(2)、AlN本征层(3)、AlGaN本征层(4)、n型AlGaN层(5)、n电极(6)、i型AlGaN层(7)、P型BN层(8)和p电极(9),其特征在于,p型BN层(8)采用厚度为60‑100nm的Mg掺杂的纤锌矿氮化硼材料,掺杂的浓度为5×1017‑1×1019cm‑3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811447507.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的