[发明专利]一种透明物体应力测量仪及其方法在审

专利信息
申请号: 201811448151.8 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109580054A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 张传维;陈伟;郭春付;李伟奇;刘世元 申请(专利权)人: 武汉颐光科技有限公司;华中科技大学
主分类号: G01L1/24 分类号: G01L1/24
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 梁鹏;曹葆青
地址: 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区汤逊湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于应力检测领域,并公开了一种透明物体应力测量仪及其方法。该测量仪包括底座和设置在底座上方的波片和检偏镜,底座用于放置待测量的样件,该底座内部设置有光源、匀光板和起偏镜,匀光板设置在光源上方,用于将光源发出的光均匀化,起偏镜设置中匀光板上方,用于将从匀光板出射的光转化为线偏振光;波片设置在待测量样件的上方,从匀光板出射的线偏振光经待测量样件后转化为椭圆偏振光,波片用于将该椭圆偏振光重新转化为线偏振光,检偏镜设置在波片上方,其通过旋转寻找将待测量样件置于底座上后检偏镜中的消光态,其旋转的角度即为所需测量的角度。通过本发明,操作简便、测量快捷,测量光路简洁,整体结构紧凑,适用范围广。
搜索关键词: 匀光板 测量 波片 样件 底座 线偏振光 检偏镜 光源 椭圆偏振光 应力测量仪 透明物体 起偏镜 出射 转化 测量光路 底座内部 光均匀化 应力检测 测量仪 消光态 紧凑
【主权项】:
1.一种透明物体应力测量仪,其特征在于,该测量仪包括底座(1)和设置在底座上方的波片(8)和检偏镜(7),所述底座(1)用于放置待测量的样件,该底座内部设置有光源(2)、匀光板(3)和起偏镜(4),所述匀光板(3)设置在所述光源上方,用于将所述光源(2)发出的光均匀化,所述起偏镜(4)设置中所述匀光板上方,用于将从所述匀光板出射的光转化为线偏振光;所述波片(8)设置在所述待测量样件的上方,从所述匀光板(3)出射的线偏振光经所述待测量样件后转化为椭圆偏振光,所述波片(8)用于将该椭圆偏振光重新转化为线偏振光,所述检偏镜(7)设置在所述波片上方,其通过旋转寻找将待测量样件置于所述底座上后所述检偏镜中的消光态,其旋转的角度即为所需测量的角度。
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