[发明专利]一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统有效
| 申请号： | 201811450031.1 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109523599B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 闫志刚;董延春;郑春雷;林耀军 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G06T7/80 | 分类号： | G06T7/80 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 程华 |
| 地址： | 066000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统。该方法包括：获取从待分析材料的晶体方向采用透射电镜拍摄的高分辨原子图像；在高分辨原子图像中标记待分析材料的单晶胞和超晶胞；以同一原子作为起始点，将单晶胞和超晶胞叠加，得到叠加后的图像；确定晶向坐标系的横向坐标轴和纵向坐标轴；确定晶向坐标系的刻度点，得到标定后的晶向坐标系；将高分辨原子图像中待标定的矢量平移至标定后的晶向坐标系；根据待标定的矢量在标定后的晶向坐标系中横向坐标轴和纵向坐标轴的分量，获得待标定的矢量的晶向值。本发明操作过程简单易行，可快速测量出透射电镜高分辨原子像上的矢量值，且可测量高分辨原子像上任意矢量的晶向值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透射 电镜高 分辨 原子 图像 矢量 标定 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法，其特征在于，包括：获取高分辨原子图像，所述高分辨原子图像为从待分析材料的晶体方向采用透射电镜拍摄的高分辨原子图像；在所述高分辨原子图像中标记所述待分析材料的单晶胞；在所述高分辨原子图像中标记所述待分析材料的超晶胞；以同一原子作为起始点，将所述待分析材料的单晶胞和超晶胞叠加，得到叠加后的图像；根据叠加后的图像，确定晶向坐标系的横向坐标轴和纵向坐标轴；根据所述叠加后的图像，确定所述晶向坐标系的刻度点，得到标定后的晶向坐标系；将所述高分辨原子图像中待标定的矢量平移至所述标定后的晶向坐标系；根据所述待标定的矢量在所述标定后的晶向坐标系中横向坐标轴和纵向坐标轴的分量，获得所述待标定的矢量的晶向值。
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