[发明专利]包括绝缘层的半导体器件及其制造方法在审
申请号: | 201811451709.8 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN110021549A | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 金圭镇;崔民洙;韩成熙;金奉秀;黄有商 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波;屈玉华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种制造半导体器件的方法包括:准备包括具有不同有源区域密度的单元区域和外围区域的衬底;形成单元沟槽,其用于在单元区域中限制单元有源区域,使得单元有源区域被形成为在第一方向上间隔开第一宽度并在第二方向上间隔开第二宽度;形成外围沟槽,其用于在外围区域中限制外围有源区域;以及在单元沟槽中形成第一绝缘层,其在第一方向和第二方向上连续延伸并且接触单元有源区域的侧壁,并且具有等于或大于第一宽度的一半且小于第二宽度的一半的厚度。 | ||
搜索关键词: | 源区域 绝缘层 半导体器件 单元区域 外围区域 单元沟槽 接触单元 连续延伸 外围沟槽 限制单元 形成单元 侧壁 衬底 制造 外围 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:衬底,其包括具有不同有源区域密度的单元区域和外围区域;单元有源区域,其在所述单元区域中以在第一方向上间隔开第一宽度并在第二方向上间隔开第二宽度;在所述外围区域中的外围有源区域;单元隔离层,其被构造为限制所述单元有源区域;以及外围隔离层,其被构造为限制所述外围有源区域,其中所述单元隔离层包括第一绝缘层,所述第一绝缘层与所述单元有源区域的侧壁接触,并且被构造为在所述第一方向和所述第二方向上连续延伸,以及所述第一绝缘层的厚度等于或大于所述第一宽度的一半且小于所述第二宽度的一半。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811451709.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造