[发明专利]一种适用于半空间环境中天线的方向图测量系统及方法有效
| 申请号： | 201811452176.5 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109581078B | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 杨伟;吕奕铭;陆平;廖成晋;陈波 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 梁田 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于半空间环境中天线的方向图测量系统及方法，包括载体平台、待测天线以及定位测量装置；所述载体平台上的待测天线位于半空间环境，待测天线辐射出测量用信号；所述定位测量装置用于在特定半径的近场半球面上测量待测天线的电场信息，并基于所述电场信息，通过球面近远场变换算法得到球面波展开系数，依据所述球面波展开系数获取天线辐射方向图；相较于传统微波暗室测量，本发明提出在外场环境中(例如，地面)进行天线近场测量，使得待测天线进行真实环境下的电磁辐射测量，对天线本身的实际工作状态进行研究，本发明的测量系统及方法具有极大的工程价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 半空 环境 天线 方向 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于半空间环境中天线的方向图测量系统，其特征在于，包括载体平台、待测天线以及定位测量装置；所述载体平台上的待测天线位于半空间环境，待测天线辐射出测量用信号；所述定位测量装置用于在特定半径的近场半球面上测量待测天线的电场信息，并基于所述电场信息，通过球面近远场变换算法得到球面波展开系数，依据所述球面波展开系数获取天线辐射方向图。
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