[发明专利]错充检测方法及错充检测系统有效
| 申请号： | 201811452652.3 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109272912B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 杨艳娜 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 高星 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请属于显示面板检测技术领域，提供了一种错充检测方法及错充检测系统；所述错充检测方法通过获取待检测的目标子画素，并且得到与所述目标子画素连接的目标扫描线、目标数据线，将该目标扫描线上的扫描信号依次传输至目标子画素的像素电极；在目标子画素的像素电极中准确地获取目标扫描线上的扫描信号，并根据该目标扫描线的扫描信号精确地得到阵列基板的错充程度；通过本申请解决了示例性技术无法对阵列基板的错充程度进行精确检测，进而导致显示面板的画面显示质量不佳的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种错充检测方法，其特征在于，所述错充检测方法包括：获取待检测的目标子画素，并得到与所述目标子画素连接的目标扫描线、目标数据线，以及与所述目标子画素相邻的目标公共电极线；断开所述目标子画素与垂直方向相邻的子画素之间的连接；断开所述目标子画素与所述目标数据线之间的连接；将所述目标扫描线、所述目标数据线、所述目标公共电极线以及所述目标子画素中的像素电极依次连接；在所述目标子画素的像素电极中获取所述目标扫描线的扫描信号；根据所述目标扫描线的扫描信号得到阵列基板的错充程度；显示所述阵列基板的错充程度。
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