[发明专利]一种基于能量特征的结构面缺陷评价方法有效
| 申请号： | 201811455438.3 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109541688B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 化希瑞;刘铁;刘铁华;张邦;卞友艳;林昀;韦德江;崔德海;肖立锋;蔡盛;赵威;雷理;卿志;杨正国;刘伟;陈洪杰 | 申请（专利权）人： | 中铁第四勘察设计院集团有限公司 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 黄行军;王虹 |
| 地址： | 430063 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明涉及地质检测方法技术领域，具体地指一种基于能量特征的结构面缺陷评价方法。包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；2)、逐点激发采集每个测点处的信号；3)、对信号进行处理，计算测点处的直达波能量值E |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 能量 特征 结构 缺陷 评价 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于能量特征的结构面缺陷评价方法，其特征在于：包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；2)、逐点激发采集每个测点处的信号；3)、对信号进行处理，计算测点处的直达波能量值Er和反射波能量值Ed；4)、按照如下公式计算该测点处介质结构面能量系数；![]()
其中：Ce——结构面能量系数；Ed——反射波能量值；Er——直达波能量值；当结构面能量系数Ce小于或等于a时，认为该测点处的结构面无异常情况，当结构面能量系数Ce大于a时，认为该测点处的结构面存在离缝、脱空等缺陷。
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