[发明专利]一种自匹配的基于像素的光学邻近修正方法及系统在审

专利信息
申请号: 201811458522.0 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109543330A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 王青;陈翰;张辰明;孟鸿林 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G06T7/00;G06T7/30
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 智云
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种自匹配的基于像素的光学邻近修正方法及系统,该方法包括:步骤S1,输入初始输入图像,利用迭代采用梯度法,根据目标图形自匹配获得最优输入图形F0;步骤S2,对于输入图形,根据光学模型进行仿真得到虚像AI;步骤S3,对虚像AI采用固定参照曝光阈值的光刻胶模型得到轮廓;步骤S4,将得到的轮廓与目标图形,进行像素差异个数对比,得到像素差异个数值;步骤S5判断像素差异个数值是否大于可容忍范围;若大于可容忍范围,则进入步骤S6;否则终止OPC修正,得到掩模结果;步骤S6,利用梯度法求解代价函数最小值得到本轮OPC修正结果,并返回步骤S2。
搜索关键词: 像素差异 匹配 光学邻近修正 目标图形 输入图形 梯度法 像素 虚像 光刻胶模型 代价函数 光学模型 输入图像 掩模结果 求解 迭代 曝光 返回
【主权项】:
1.一种自匹配的基于像素的光学邻近修正方法,包括如下步骤:步骤S1,输入初始输入图像,利用迭代采用梯度法,根据目标图形自匹配获得最优输入图形F0;步骤S2,对于输入图形,根据光学模型进行仿真得到虚像AI;步骤S3,对虚像AI采用固定参照曝光阈值的光刻胶模型得到轮廓;步骤S4,将得到的轮廓与目标图形,进行像素差异个数对比,得到像素差异个数值;步骤S5判断像素差异个数值是否大于可容忍范围;若大于可容忍范围,则进入步骤S6,否则终止OPC修正,得到掩模结果;步骤S6,利用梯度法求解代价函数最小值得到本轮OPC修正结果,并返回步骤S2。
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