[发明专利]发光二极管芯片在审
申请号: | 201811461350.2 | 申请日: | 2018-12-02 |
公开(公告)号: | CN109545927A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 洪越 | 申请(专利权)人: | 江苏卫航智昊通信科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/02 |
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地址: | 211400 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种发光二极管芯片,发光二极管芯片从下向上依次包括:衬底、成核层、氮化物缓冲层、非掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层、P型AlGaN层、P型GaN层、P型InGaN接触层,还包括与P型InGaN接触层电性导通的P电极,与N型GaN层电性导通的N电极,P型InGaN接触层中In的摩尔浓度向着远离所述P型GaN层的方向递增。本发明中与金属接触的是P型InGaN接触层,P型InGaN接触层中掺杂有高浓度的Mg,In的摩尔浓度为逐渐递增的渐变层结构并在接触面上达到最高值,P型InGaN接触层的空穴浓度较高,减少了与金属接触电阻率,增加了载流子通过隧穿穿越金属与半导体接触势垒区的几率,可降低发光二极管芯片的工作电压,提高了发光二极管芯片的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 接触层 发光二极管芯片 电性导通 金属接触 载流子 氮化物缓冲层 空穴 非掺杂GaN层 多量子阱层 递增 发光效率 工作电压 接触势垒 成核层 电阻率 渐变层 衬底 隧穿 半导体 掺杂 穿越 金属 | ||
【主权项】:
1.一种发光二极管芯片,其特征在于,所述发光二极管芯片从下向上依次包括:衬底;位于衬底上的成核层;位于成核层上的氮化物缓冲层;位于氮化物缓冲层上的非掺杂GaN层;位于非掺杂GaN层上的N型GaN层;位于N型GaN层上的多量子阱层;位于多量子阱层上的P型AlGaN层;位于P型AlGaN层上的P型GaN层;位于P型GaN层上的P型InGaN接触层,所述P型InGaN接触层中In的摩尔浓度向着远离所述P型GaN层的方向递增;位于P型InGaN接触层上且与P型InGaN接触层电性导通的P电极,位于N型GaN层上且与N型GaN层电性导通的N电极。
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