[发明专利]ESD测试方法及装置有效
申请号: | 201811467388.0 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN109342858B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 许传停;张坤 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了ESD测试方法及装置,属于电子技术领域。本发明利用放电棒在预设测试电压下对待测设备的每个信号线分别进行放电测试,从而获取每个信号线在放电测试时对应的待测设备的工作状态及待测设备的总电流,当待测设备的工作状态为正常状态时,根据待测设备的总电流判断待测设备是否异常,实现了根据静电对待测设备总电流的影响对待测设备的ESD性能进行分析判断的目的,提高了测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | esd 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶晨半导体(上海)股份有限公司,未经晶晨半导体(上海)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811467388.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。