[发明专利]TFT基板的制作方法及TFT基板有效
申请号: | 201811468004.7 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN109616444B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 赵振宇;李威 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;程晓 |
地址: | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及TFT基板。本发明的TFT基板的制作方法,采用第一栅极与第二栅极组成双栅极结构,并利用氮化硅层制作蚀刻阻挡层,当沉积形成该氮化硅层时,其中的氢原子会扩散至有源层中,在有源层中形成掺杂,氢原子作为供体提供大量电子,使得低阻抗沟道区的电子迁移率增加,阻抗进一步降低,从而在原有沟道区形成TFT沟道串联结构,降低了两侧沟道阻抗,等效缩短了沟道长度,提高了电子迁移率,降低功耗,在无需改变黄光制程设备的情况下,通过离子扩散掺杂,实现了双TFT结构,节约成本,实际使用中可有效节约空间,优化空间布局。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 基板 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上形成相间隔的第一栅极(21)和第二栅极(22),在所述第一栅极(21)、第二栅极(22)及衬底基板(10)上沉积形成栅极绝缘层(30),在所述栅极绝缘层(30)上沉积并图案化形成对应于所述第一栅极(21)和第二栅极(22)上方的有源层(40);步骤S2、在所述有源层(40)与栅极绝缘层(30)上沉积形成蚀刻阻挡层(50),所述蚀刻阻挡层(50)包括氮化硅层(51),当沉积所述蚀刻阻挡层(50)的氮化硅层(51)时,该氮化硅层(51)中的氢原子会扩散至所述有源层(40)中,从而降低所述有源层(40)的阻抗;步骤S3、在所述蚀刻阻挡层(50)上沉积并图案化形成源极(61)和漏极(62)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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