[发明专利]一种紫外LED外延结构及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201811468293.0 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109585622A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 何苗;丛海云;黄仕华;熊德平 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510060 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种紫外LED外延结构,包括衬底;位于所述衬底第一侧的缓冲层;位于所述缓冲层背离所述衬底一侧的未掺杂的GaN层;位于所述未掺杂的GaN层背离所述缓冲层一侧的N型GaN层;位于所述N型GaN层背离所述未掺杂的GaN层一侧的多量子阱结构层;位于所述多量子阱结构层背离所述N型GaN层一侧的Al组分变化的电子阻挡层;位于所述Al组分变化的电子阻挡层背离所述多量子阱结构层一侧的P型GaN层。本申请中阻挡层为Al组分变化的电子阻挡层,抑制极化电场带来的量子限制斯达克效应,减少电子从多量子阱结构层隧穿至P型GaN层,从而提高内量子效率。本申请还提供一种具有上述优点的紫外LED外延结构生长方法。
搜索关键词: 多量子阱结构层 背离 电子阻挡层 外延结构 组分变化 紫外LED 缓冲层 未掺杂 衬底 申请 内量子效率 极化电场 量子限制 生长 阻挡层 隧穿
【主权项】:
1.一种紫外LED外延结构,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底第一侧的缓冲层;位于所述缓冲层背离所述衬底一侧的未掺杂的GaN层;位于所述未掺杂的GaN层背离所述缓冲层一侧的N型GaN层;位于所述N型GaN层背离所述未掺杂的GaN层一侧的多量子阱结构层;位于所述多量子阱结构层背离所述N型GaN层一侧的Al组分变化的电子阻挡层;位于所述Al组分变化的电子阻挡层背离所述多量子阱结构层一侧的P型GaN层。
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