[发明专利]一种渐变型散射结构光谱分析装置及光谱复原方法

摘要

本发明提供了一种渐变型散射结构光谱分析装置及光谱复原方法。该装置包括透明的基底，其上设有渐变结构特征的散射粒子层，基底的下方设有用于接收散射光的光电探测器阵列，在散射粒子层上方设有两个共焦透镜，在共焦透镜之间设有一孔径光阑。入射光先经过两个共焦透镜，然后经过散射粒子层，进而在光电探测器阵列上产生不同特征的散射光斑，最后采用一种散射光斑局部窗口化、特征加权且光谱分段复原的方法获得光谱复原矩阵，采用Tikhonov正则化求解大型线性方程组的方法复原光谱。本发明中散射粒子层采用渐变结构特征散射粒子，有效解决了宽光谱分析范围与高光谱分辨率之间的矛盾。

主权项

1.一种渐变型散射结构光谱分析装置，其特征是，包括一透明基底，在所述基底表面设有一散射粒子层，所述散射粒子层具有渐变结构特征，散射粒子层的渐变结构特征表现为散射粒子尺寸、密度和/或折射率呈渐变分布，渐变结构特征的渐变形式为散射或辐射；在所述基底的上方设有两个共焦透镜，在两个共焦透镜之间设有一孔径光阑；在所述基底的下方设有光电探测器阵列。