[发明专利]电性测试设备及电性测试设备十字线缺陷精确定位方法在审
| 申请号： | 201811475446.4 | 申请日： | 2018-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN109545115A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 刘强 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;刘巍 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电性测试设备及电性测试设备十字线缺陷精确定位方法。该电性测试设备十字线缺陷精确定位方法包括：步骤10、在电性测试设备上加入红外探头；步骤20、利用电性测试设备向阵列基板加电；步骤30、通过红外探头侦测阵列基板内因十字线缺陷产生热量的位置，从而定位阵列基板上十字线缺陷的位置。本发明还提供了一种电性测试设备。本发明的电性测试设备及电性测试设备十字线缺陷精确定位方法，能够精确定位阵列基板上的十字线缺陷，进而提升修补效率和产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 电性测试设备 十字线 精确定位方法 定位阵列 红外探头 阵列基板 基板 产品良率 缺陷产生 加电 侦测 修补 | ||
【主权项】：
1.一种电性测试设备十字线缺陷精确定位方法，其特征在于，包括：步骤10、在电性测试设备上加入红外探头；步骤20、利用电性测试设备向阵列基板加电；步骤30、通过红外探头侦测阵列基板内因十字线缺陷产生热量的位置，从而定位阵列基板上十字线缺陷的位置。
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