[发明专利]基于单对电极电容成像检测技术的非导电材料开口缺陷宽度方向尺寸量化方法有效
| 申请号： | 201811477328.7 | 申请日： | 2018-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN111272060B | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 殷晓康;谷悦;李振;李晨;王克凡;符嘉明;曹松;李伟;陈国明 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G01B7/14 | 分类号： | G01B7/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266580 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于单对电极电容成像检测技术的非导电材料开口缺陷宽度方向尺寸量化的方法，涉及无损检测信号处理领域，包括：利用一个极板间距为S的探头接收包括非导电材料开口缺陷在内的输入单对电极电容成像连续n个位置处的检测信号电压值U |
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| 搜索关键词： | 基于 电极 电容 成像 检测 技术 导电 材料 开口 缺陷 宽度 方向 尺寸 量化 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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