[发明专利]阻抗测试结构在审
| 申请号： | 201811479250.2 | 申请日： | 2018-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN109633302A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 周江姣 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种阻抗测试结构，包括：一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极。 | ||
| 搜索关键词： | 第二电极 第三电极 第一电极 电极 导电元件 第二基板 第一基板 电性器件 阻抗测试 电连接 绝缘 | ||
【主权项】：
1.一种阻抗测试结构，其特征在于，包括：一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司，未经武汉华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811479250.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
