[发明专利]I/Q不平衡校准装置、方法及使用其装置的发射机系统有效

专利信息
申请号: 201811480049.6 申请日: 2018-12-05
公开(公告)号: CN109936415B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 管延城;周泓廷 申请(专利权)人: 徐克铭
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B17/11;H04B17/318;H04L27/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 中国台湾台北市中正*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种I/Q不平衡校准方法,包括顺序地将第一同相及正交校准信号输入到发射机系统的前端电路,以顺序地获取和采用差值估计第一及第二校准信号强度;根据估计的第一及第二校准信号强度计算I/Q增益不平衡值;顺序地输入第二同相校准信号、及第二同相校准信号和第二正交校准信号的两者到发射机系统的前端电路,以顺序地获取和估计第三和第四校准信号强度,其中根据I/Q增益不平衡校准第一同相和正交校准信号,产生第二同相和正交校准信号;以及,根据估计的第三和第四校准信号强度计算I/Q相位不平衡值。
搜索关键词: 不平衡 校准 装置 方法 使用 发射机 系统
【主权项】:
1.一种I/Q不平衡校准装置,适于操作在I/Q不平衡校准模式的发射机系统中,其特征在于,包括:校准信号产生器,用于选择性地产生第一同相校准信号、第一正交校准信号、以及所述第一同相校准信号和所述第一正交校准信号的两者;I/Q不平衡校准器,电连接所述校准信号产生器,用于在接收到I/Q增益不平衡值之后,对所述第一同相校准信号及所述第一正交校准信号进行I/Q增益不平衡校准,以产生第二同相校准信号和第二正交校准信号,并且选择性地将所述第一同相校准信号、所述第一正交校准信号、所述第二同相校准信号、以及所述第二同相校准信号和所述第二正交校准信号的两者输出至所述发射机系统的前端电路;信号强度获取电路,电连接所述发射机系统的所述前端电路,用于选择性地获取并输出第一至第四校准信号强度中的其中一者,其中所述第一至第四校准信号强度对应于第一至第四校准信号,所述前端电路分别处理所述第一同相校准信号、所述第一正交校准信号、所述第二同相校准信号、以及所述第二同相校准信号和所述第二正交校准信号的两者以相对应地产生所述第一至第四校准信号的其中一者;及I/Q不平衡估计器,电连接所述信号强度获取电路,通过差值估计选择性地估计所述第一至第四校准信号强度中的其中一者,根据第一校准信号估计强度和第二校准信号估计强度计算所述I/Q增益不平衡值,以及根据第三校准信号估计强度和第四校准信号估计强度计算I/Q相位不平衡值。
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