[发明专利]ITO透明导电膜功能性激光损伤阈值的测量装置及测量方法有效
申请号: | 201811484743.5 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109540839B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 赵元安;彭丽萍;刘晓凤;李大伟;邵建达;王玺;彭小聪;李成;马浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种ITO透明导电膜功能性激光损伤阈值的测量装置及测量方法,包括泵浦连续激光器、探测连续激光器、分束镜、功率计、万用表及计算机,通过在线实时测量ITO透明导电膜的透过率和电阻率的变化来判定ITO透明导电膜在连续激光辐照下的功能性激光损伤阈值。本发明可有效评价ITO透明导电膜的功能性激光损伤阈值,为ITO透明导电膜在连续激光辐照下的应用提供依据。该方法最重要的是在测量之前先对ITO透明导电膜进行带状结构的刻蚀处理,以便于激光辐照处ITO透明导电膜电阻率的准确测量。 | ||
搜索关键词: | ito 透明 导电 功能 激光 损伤 阈值 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种ITO透明导电膜功能性激光损伤阈值的测量装置,其特征在于,包括:泵浦连续激光器(1)、可二维移动的样品台(3)、探测连续激光器(4)、分束镜(5)、第一功率计(6)、第二功率计(7)、计算机(8)和万用表(9);待测ITO透明导电膜样品(2)的膜面需刻蚀出一个宽度为d的带状结构,且带状结构宽度d为所述泵浦连续激光器(1)辐照在所述待测ITO透明导电膜样品(6)表面的光斑直径D的1.5~2倍;所述待测ITO透明导电膜样品(2)夹持在所述样品台(3)上,所述泵浦连续激光器(1)输出的激光垂直辐照在所述待测ITO透明导电膜样品(2)表面,所述探测连续激光器(4)输出的激光经所述分束镜(5)后分成反射光束和透射光束,反射光束由所述第一功率计(6)接收,透射光束以一定角度辐照在所述待测ITO透明导电膜样品(2)表面,辐照区域与所述泵浦连续激光器(1)辐照的区域重合,且经待测ITO透明导电膜样品(2)透射的光束由所述第二功率计(7)接收;所述万用表(9)的两个探头分别固定在所述待测ITO透明导电膜样品(2)表面带状结构的两端,所述计算机(8)的输入端分别与所述第一功率计(6)、第二功率计(7)和万用表(9)的输出端相连。
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