[发明专利]光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置有效
申请号: | 201811486383.2 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109900637B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | J·耶斯凯莱伊宁;H·萨罗;V·吕拉;T·劳塔迈基 | 申请(专利权)人: | 芬兰维萨拉有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/41 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈斌 |
地址: | 芬兰赫*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置。该光学测量设备包括测量头、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳,内壳被至少部分地布置在外壳中,测量头被布置在外壳中并且被从其第一端附接到测量孔口且被从其第二端附接到内壳的一端,垫圈被布置在测量头和测量孔口之间,并且在外壳内部布置有从垫圈朝向紧固凸缘部分延伸的流体流动路径,其中朝外壳形成有渗漏检测端口,该渗漏检测端口具有进入流体流动路径开口的一个端部和进入紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部,其中紧固凸缘在进入侧表面的开口和测量孔口之间突出。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 设备 折射 用于 布置 | ||
【主权项】:
1.一种光学测量设备,所述光学测量设备包括测量头、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳,所述内壳被至少部分地布置在所述外壳中,所述测量头被布置在所述外壳中并且被从其第一端附接到所述测量孔口且被从其第二端附接到所述内壳的一端,垫圈被布置在所述测量头和所述测量孔口之间,并且在所述外壳内部布置有从所述垫圈朝向所述紧固凸缘部分延伸的流体流动路径,其中朝所述外壳形成有渗漏检测端口,所述渗漏检测端口具有进入所述流体流动路径开口的一个端部和进入所述紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部,其中紧固凸缘在进入所述侧表面的开口和所述测量孔口之间突出。
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