[发明专利]基于点源空间效率函数的层析γ扫描体素效率刻度方法有效

专利信息
申请号: 201811487228.2 申请日: 2018-12-06
公开(公告)号: CN109541675B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 郑洪龙;庹先国;石睿;李怀良;王琦标;邓超;李志刚;何艾静;刘威;王叶蔺 申请(专利权)人: 四川理工学院;西南科技大学
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T1/29
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 李玉兴
地址: 643000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种解决已有方法通用性差、工作量大、计算繁冗的层析γ扫描体素效率刻度方法。该方法首先采用MCNP程序计算在TGS系统探测空间和多个γ射线能量下的离散点源效率,结合所提出的点源空间效率函数模型,采用多元非线性回归拟合方法,建立效率刻度函数。其次根据实际核废物桶体素划分方式确定各体素中心位置坐标,通过TGS发射测量获取γ射线能量。最后将体素中心位置坐标和γ射线能量带入效率刻度函数,快速、准确的计算各个体素的效率。采用该方法在探测系统不变的情况下,对于探测区域内的任意核废物桶位置、断层个数、体素划分方式及体素个数,均可快速、准确实现体素效率刻度,使刻度实现过程通用化、简单快捷化,且效率刻度工作量小。
搜索关键词: 基于 空间 效率 函数 层析 扫描 刻度 方法
【主权项】:
1.基于点源空间效率函数的层析γ扫描体素效率刻度方法,其特征在于,包括以下步骤:1)建立探测系统点源空间效率函数;采用探测器对γ点源的探测效率进行测量,建立点源空间效率函数模型为分段函数如下:当γ射线能量E<0.122MeV时:当γ射线能量E≥0.122MeV时:式中,ε(x,y,z,E,ai)为点源效率,(x,y,z)为点源坐标位置,ai(i=1,2,…,10)为函数参数;2)多元非线性回归拟合方法确定函数参数;根据实际层析γ扫描探测系统的可探测区域范围,分别选定x、y、z的取值范围,均取离散点,γ射线能量选取范围:低能段范围0.01‑0.122MeV,中高能段范围0.122‑1.408MeV,γ射线能量同样取离散点;通过MCNP程序建立探测系统物理模型,在探测区域内的各个离散点位置处,计算探测系统对点源发射多个离散能量γ射线的探测效率;基于步骤1)中所提出的点源空间效率函数和步骤2)中得到的离散点源探测效率值,采用多元非线性回归拟合方法,获取函数参数ai(i=1,2,…,10);3)根据体素划分方式确定各体素中心位置;根据核废物桶体素划分方式,包括两种方式:在直角坐标体系中,将体素划分为正方体形状;在极坐标体系中,将体素划分为扇形体形状;每种划分方式均采用以下步骤确定各体素中心位置:先将桶进行纵向分为若干断层,每个断层在分为若干体素;在所建立的探测系统坐标系里面,根据各个体素在探测空间中的划分顺序,确定各体素中心位置为(x,y,z);4)体素效率计算;采用细小网格体素划分,此时体素尺寸非常小,体素效率等效于体素中心点的效率,采用点源空间效率函数计算体素中心点效率,根据TGS发射测量,获取桶内出射γ射线的能量E;将各个体素中心所处的坐标(x,y,z)、桶内出射γ射线能量E、函数参数ai带入步骤1)中建立的效率函数计算得到探测系统对各个体素的探测效率。
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