[发明专利]一种自动测量极化器反射波的极化参数的系统有效
申请号: | 201811487413.1 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109617630B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 夏冬辉;田一哲;陈曦璇;王之江 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H04B17/24 | 分类号: | H04B17/24;H04B17/40 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种自动测量极化器反射波的极化参数的系统,包括:所述待测极化器固定在第一旋转装置上,所述接收天线、接收端隔离器、检波器整体固定在第二旋转装置上;所述第一旋转装置由第一步进电机驱动,所述第二旋转装置由第二步进电机驱动;所述第一步进电机与第二步进电机由控制模块控制;所述模拟‑数字信号转换模块用于将检波器输出的电压信号转换成数字信号输入控制模块进行处理;所述控制模块根据预先设定的程序自动控制步进电机动作,并自动记录模拟‑数字信号转换模块输出的所有数字信号,从而完成对待测极化器的反射波的极化参数的自动测量。本发明具有设计简便,研制难度低,可维护性强,节省人力等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 测量 极化 反射 参数 系统 | ||
【主权项】:
1.一种自动测量极化器反射波的极化参数的系统,其特征在于,包括:微波源、发射天线、接收天线、检波器、控制模块、第一步进电机、第二步进电机、第一旋转装置、第二旋转装置;所述微波源输出微波信号;所述发射天线将微波源输出的微波信号从波导中辐射到自由空间中;发射天线辐射的微波信号入射到待测极化器,以使待测极化器将接收的微波信号的极化参数改变后反射到自由空间中;所述待测极化器反射后的微波信号的极化参数随着待测极化器的旋转角变化而发生变化;所述接收天线从自由空间中接收所述待测极化器反射的微波信号并传输到波导中;所述检波器检测所述接收天线接收的微波信号,得到对应的检测信号,所述检测信号对应的电压的幅值随着所述检波器的旋转角发生变化;所述待测极化器的背面固定在第一旋转装置上,其中心与第一旋转装置同轴,与第一旋转装置始终保持同步旋转,所述接收天线和检波器均同轴固定在第二旋转装置上,其中心均与第二旋转装置同轴,且与第二旋转装置始终保持同步旋转;所述第一步进电机,用于驱动第一旋转装置,进而改变待测极化器的旋转角;所述第二步进电机,用于驱动第二旋转装置,进而改变检波器的旋转角;所述控制模块通过控制第一步进电机和第二步进电机动作,控制待测极化器的旋转角周期变化,并在待测极化器的每个旋转角下,控制检波器的旋转角周期变化;以及根据检波器得到的各个待测极化器旋转角和各个检波器旋转角下的检测信号,确定待测极化器各个旋转角下的反射波信号的极化参数。
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