[发明专利]一种测量砖的烧制温度的方法在审
| 申请号： | 201811488161.4 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109521044A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 张中俭;申佳妮 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N25/12 | 分类号： | G01N25/12;G01N27/72 |
| 代理公司： | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人： | 陈琳;孟智广 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量砖的烧制温度的方法，其中，包括步骤：获取砖体并磨平；测量砖体在不同温度下的磁化率，得到磁化率‑温度图；计算两个相邻温度下砖体磁化率的变化，得出磁化率变化‑温度图；通过磁化率变化‑温度图横、纵坐标的变化，判断砖体的烧制温度。本发明测量砖的烧制温度的方法，操作简单，对砖体的质量和尺寸无要求，可定量化测得砖的烧制温度且误差小。 | ||
| 搜索关键词： | 磁化 烧制 砖体 温度图 测量 定量化 下砖体 磨平 | ||
【主权项】：
1.一种测量砖的烧制温度的方法，其特征在于，包括：步骤S100、获取砖体，将需要测量的砖体表面磨平；步骤S200、预估砖体烧制温度的范围[T,T’]，将一组砖体置于高温炉中，并升温至T，稳定一段时间后降至室温，测量砖体的磁化率，获得砖体在温度T下的磁化率值；之后每次增加温度间隔ΔT，重复上述升温、降温和测量磁化率的步骤，直至温度达到T’，获取这组砖体在相应温度下的磁化率值，得到磁化率‑温度图；步骤S300、计算步骤S200所获得的两个相邻温度下的磁化率的变化，得出磁化率变化‑温度图；步骤S400、根据步骤S300得到的磁化率变化‑温度图，分析横、纵坐标的变化，判断砖体的烧制温度。
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