[发明专利]一种光栅无损检测方法及系统在审
| 申请号： | 201811488263.6 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109544552A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 舒远;王星泽;倪一帆 | 申请（专利权）人： | 合刃科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G01N23/04 |
| 代理公司： | 深圳玖略知识产权代理事务所(普通合伙) 44499 | 代理人： | 郭长龙 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种光栅无损检测方法及系统，方法包括：获取样品光栅图像；对样品光栅图像进行背景校正，获得样品光栅透射图；对样品光栅透射图提取样本区域进行分析，获得样品光栅透射图的像素灰度平均值；根据样本区域以及像素灰度平均值判断样品光栅的均匀性；采用Sobel算子对样品光栅透射图进行缺陷提取；将均匀性结果信息和缺陷信息进行显示；该方法通过对样品光栅透射图采样，计算样本区域的相对误差、方差，提取直方图，从而对样品光栅的均匀性进行判断，根据光栅的结构特点，利用Sobel算子消除垂直方向的条纹，从而查找出非垂直方向轮廓的缺陷，方法简单，可靠性高，无需破坏光栅即可检测出样品光栅的均匀性，为样品光栅是否能投入使用提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 透射图 均匀性 样本区域 光栅图像 无损检测 像素灰度 背景校正 方向轮廓 结果信息 缺陷提取 缺陷信息 相对误差 非垂直 直方图 采样 方差 条纹 查找 检测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种光栅无损检测方法，其特征在于，包括：获取样品光栅图像；对所述样品光栅图像进行背景校正，获得样品光栅透射图；对所述样品光栅透射图提取样本区域进行分析，获得所述样品光栅透射图的像素灰度平均值；根据所述样本区域以及所述像素灰度平均值判断样品光栅的均匀性；采用Sobel算子对所述样品光栅透射图进行缺陷提取；将均匀性结果信息和缺陷信息进行显示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合刃科技（深圳）有限公司，未经合刃科技（深圳）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811488263.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
