[发明专利]一种测试座及其寿命监控方法有效
| 申请号： | 201811488781.8 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109470963B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 程振;钟衍徽;伍永青 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种测试座及其寿命监控方法，该测试座包括测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接测试座主体，在测试座主体输出测试结果时，计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。本申请的有益效果是：本申请提供的测试座及其寿命监控方法中，将测试座中配备计数装置，在测试座输出结果时，计数装置同时输出计数，并且计数装置每次输出的计数会加一，从而通过此计数便可得知测试座的使用次数，从而得知测试座的使用寿命，能够对测试座的使用寿命进行监控，以方便进行及时的更换或者停用，方便快捷，并且十分适合应用于自动化工厂。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 及其 寿命 监控 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试座，其特征在于，所述测试座包括：测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接所述测试座主体，在所述测试座主体输出测试结果时，所述计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市江波龙电子股份有限公司，未经深圳市江波龙电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811488781.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电磁兼容间歇性测试控制装置
- 下一篇：一种石英晶体振荡器测试装置
