[发明专利]一种分子量分布控制中传感器故障诊断与容错控制方法有效
| 申请号： | 201811489086.3 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109799802B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 姚利娜;王豪;李立凡;梁占红;武亚威;顾照玉 | 申请（专利权）人： | 郑州大学 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人： | 张真真;栗改 |
| 地址： | 450001 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种分子量分布控制中传感器故障诊断与容错控制方法，步骤为：通过质量光谱仪或激光测试技术在线获得化工反应过程分子量的分布，得到输出概率密度函数，用B样条神经网络逼近输出概率密度函数；建立系统的状态空间模型，经扫描辨识法变换后得到状态空间模型的参数，设计学习故障诊断观测器；利用学习故障诊断观测器实时监控传感器是否有故障发生，当有故障发生，及时估计出故障信息；利用估计的故障信息对系统的输出权值进行补偿；将设计好的控制信号输入系统，使系统输出分子量分布跟踪期望分子量的分布。本发明可为系统运行过程中的可靠性和安全性提供保障，为相关企业人员的生命安全和财产安全保驾护航。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分子量 分布 控制 传感器 故障诊断 容错 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分子量分布控制中传感器故障诊断与容错控制方法，其特征在于，其步骤如下：步骤100：通过质量光谱仪或激光测试技术在线获得化工反应过程分子量的分布，得到输出概率密度函数，用B样条神经网络逼近输出概率密度函数；步骤200：根据逼近的输出概率密度函数建立系统的状态空间模型，经扫描辨识法变换后得到状态空间模型的参数，设计学习故障诊断观测器；步骤300：将设计好的学习故障诊断观测器在计算机上实现，实时监控传感器是否有故障发生，当有故障发生，学习故障诊断观测器及时估计出故障信息；步骤400：当系统有故障发生故障诊断观测器准确估计出故障信息，利用估计的故障信息对系统的输出权值进行补偿；步骤500：将设计好的控制信号输入系统使系统输出分子量分布跟踪期望分子量的分布。
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