[发明专利]光学标定系统及标定方法在审

专利信息
申请号: 201811492414.5 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN109489691A 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 贺小平 申请(专利权)人: 银河航天(北京)通信技术有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京市一法律师事务所 11654 代理人: 刘荣娟
地址: 102445 北京市房山*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明技术方案公开了一种光学标定系统及标定方法,其中标定系统包括:反射透射单元,接收光束,并将光束反射后进行透射形成透射光束;全反射单元,接收所述透射光束并反射出全反射光束或折返光束,所述全反射光束与所述透射光束之间具有夹角,所述折返光束沿所述透射光束路径折返;感光单元,接收所述全反射光束或所述折返光束,确定所述全反射光束或所述折返光束的光斑坐标。本发明的技术方案提高了测量效率,减少了测量时长,且提高了测量数据的可靠性、一致性。
搜索关键词: 折返 全反射光束 透射光束 光学标定 标定 反射 标定系统 测量数据 测量效率 感光单元 光斑坐标 光束反射 接收光束 透射单元 全反射 透射 时长 测量
【主权项】:
1.一种光学标定系统,其特征在于,包括:反射透射单元,接收光束,并将光束反射后进行透射形成透射光束;全反射单元,接收所述透射光束并反射出全反射光束或折返光束,所述全反射光束与所述透射光束之间具有夹角,所述折返光束沿所述透射光束路径折返;感光单元,接收所述全反射光束或所述折返光束,确定所述全反射光束或所述折返光束的光斑坐标。
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