[发明专利]高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法有效
| 申请号： | 201811499195.3 | 申请日： | 2018-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN109783850B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 王海东;孔宪光;马洪波;钟健飞;杨胜康;王肇喜 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23;G06F119/18;G06F119/14;G06F119/04;G06F119/08 |
| 代理公司： | 西安长和专利代理有限公司 61227 | 代理人： | 黄伟洪 |
| 地址： | 710071 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于高加速应力筛选试验技术领域，公开了一种高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法；采用有限元分析软件进行实体建模；对筛选对象模型按照高加速寿命筛选(HASS)试验中的破坏极限和工作极限进行加载；根据确定的破坏极限和工作极限分别在温度和振动应力下进行有限元仿真分析，得到不同应力水平下的损伤因子和等效寿命；对筛选对象失效模式和失效时间进行整理统计与分析，选择可靠性分析模型；构建温度和振动应力下的综合累计损伤因子，计算等效寿命，得到HASS剖面下的可靠性模型，对经过HASS试验的对象进行剩余寿命评估和可靠性分析。 | ||
| 搜索关键词： | 加速 应力 筛选 试验 剩余 寿命 评估 可靠性分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法，其特征在于，所述高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法包括：步骤一，采用有限元分析软件进行实体建模，分别对电阻、电容、电感、集成电路、电气接插件、焊接点、导线连接、机械联接、电路板及机箱进行几何建模；步骤二，对修正的模型按照HASS试验的结果进行加载，温度和振动应力采用循环和步进方式加载；步骤三，根据在温度和振动应力下的仿真结果，计算两种应力下的损伤因子和等效寿命；步骤四，对筛选对象失效模式和等效寿命进行整理统计与分析，选择可靠性分布模型；步骤五，构建温度和振动应力下的综合累计损伤因子，计算等效寿命，得到HASS剖面下的可靠性模型，对经过HASS试验的对象进行剩余寿命评估和可靠性分析。
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