[发明专利]一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法有效
| 申请号： | 201811501165.1 | 申请日： | 2018-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN109357636B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 蒋体钢;张黎洁 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 51268 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法，该方法包括结构光预处理，生成投射光栅，捕捉黑色件表面图像，将黑色件表面图像的每个像素点的灰度值进行放大处理，根据放大处理后的像素点的灰度值计算各个像素点的相位。本发明通过将投影光栅投影到黑色件表面进行捕捉图像，并将图像中的每个像素点的灰度值进行放大处理，利用放大后的像素点灰度值计算各个像素点的相位，能够减小噪声干扰，有效提高相位计算精度。 | ||
| 搜索关键词： | 像素点 灰度 放大处理 结构光 表面图像 放大 扫描 预处理 捕捉图像 投影光栅 相位计算 噪声干扰 光栅 减小 投射 投影 捕捉 图像 | ||
【主权项】：
1.一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法，其特征在于，包括以下步骤：/nA、对结构光进行预处理，获取多个移动波形；/nB、根据步骤A中的移动波形生成多个投射光栅；/nC、将步骤B中的投射光栅依次投影到黑色件上，并采用CCD相机分别捕捉黑色件表面图像；/nD、将步骤C中黑色件表面图像的每个像素点的灰度值进行放大处理，具体包括以下分步骤：/nD1、将步骤C中捕捉的多张黑色件表面图像按顺序排列作为初始图像序列；/nD2、将步骤D1中初始图像序列的每张图像分别进行高斯金字塔分解处理，选取最上层图像，形成新的图像序列；/nD3、将步骤D2中新的图像序列的图像中所有像素点由二维坐标系映射到一维坐标系，构建灰度值变化模型；/nD4、对步骤D3中灰度值变化模型进行理想带通滤波处理，得到像素点变化灰度值；/nD5、将步骤D4中像素点变化灰度值进行放大处理，并与步骤D3中灰度值变化模型进行相加，得到像素点放大后的灰度值；/nD6、将步骤D5中放大后的像素点映射到二维坐标系，恢复各像素点在图像中的初始位置，得到灰度值放大后的图像序列；/nE、根据步骤D放大处理后的像素点的灰度值计算各个像素点的相位。/n
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