[发明专利]太阳光栅光谱仪光学系统优化方法、装置、设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201811504123.3 申请日: 2018-12-10
公开(公告)号: CN109655156B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 郑联慧;杨秀珍;郑冬梅;魏茂金;纪峰辉;陈江祥;赖艺彬;郭守章 申请(专利权)人: 三明学院
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G02B27/00
代理公司: 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 代理人: 杨玉芳
地址: 365000 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种太阳光栅光谱仪光学系统优化方法、装置、设备和存储介质,包括:获取用户选取的太阳物理科学目标;根据太阳物理科学目标,选取对应的光栅类型和多个特征谱线;其中,光栅类型参数包括光栅常数、光栅闪耀角;当光栅入射角等于光栅衍射角时,根据光栅常数、特征谱线的波长,计算特征谱线对应的衍射级次;根据衍射级次、光栅闪耀角和光栅方程,计算光栅入射角的变化范围;根据光栅入射角的变化范围,计算在不同光栅入射角下,不同特征谱线所对应的的光栅衍射效率;根据多个特征谱线均能获得更高的光栅衍射效率的原则,获得光栅入射角。能显著提高光谱成像系统的能量利用率,从而提高了光谱成像系统的时间分辨率和光谱数据信噪比。
搜索关键词: 太阳 光栅 光谱仪 光学系统 优化 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种太阳光栅光谱仪光学系统优化方法,其特征在于,包括:获取用户选取的太阳物理科学目标;根据所述太阳物理科学目标,选取对应的光栅类型以及多个特征谱线;其中,所述光栅类型参数包括光栅常数、光栅闪耀角;当光栅入射角等于光栅衍射角时,根据所述光栅常数、所述特征谱线的波长,计算所述特征谱线对应的衍射级次;根据所述衍射级次、光栅闪耀角以及光栅方程,计算光栅入射角的变化范围;根据所述光栅入射角的变化范围,计算在不同所述光栅入射角下,不同特征谱线所对应的光栅衍射效率;根据多个特征谱线均能获得更高的光栅衍射效率的原则,获得光栅入射角。
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