[发明专利]用于校准X射线测量装置的方法和医学成像仪器有效
| 申请号： | 201811504775.7 | 申请日： | 2018-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN109893148B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 斯特芬·卡普勒;阿希姆·希伦布兰德 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗保健有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 丁永凡;周涛 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提出用于校准X射线测量装置的方法和医学成像仪器。X射线测量装置包括光谱灵敏的X射线探测器，针对多个不同能量区间的分辨率，配置X射线测量装置以进行测量，将测试物体定位在X射线射束的射束路径中，通过X射线射束辐照所述测试物体，并且在此借助于X射线测量装置执行所述测试物体的根据所述能量区间相应分辨的强度测量，根据所述测试物体的强度测量，测定测试物体的吸收函数，将能量区间中的一个能量区间配置作为基准区间，使得吸收函数在基准区间范围内具有可忽略的能量相关性，根据吸收函数在基准区间中的至少一个值测定用于至少一个另外的能量区间的所述吸收函数的校正函数，并且根据所述校正函数校准所述X射线测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 射线 测量 装置 方法 医学 成像 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准X射线测量装置(10)的方法，所述X射线测量装置包括光谱灵敏的X射线探测器，其中‑针对多个不同能量区间(ΔEj)的分辨率，配置所述X射线测量装置(10)以进行测量，‑将测试物体(16)定位在X射线射束(8)的射束路径(14)中，‑通过所述X射线射束(8t)辐照所述测试物体(16)，并且在此借助于所述X射线测量装置(10)执行所述测试物体(16)的根据所述能量区间(ΔEj)相应分辨的强度测量，‑根据所述测试物体(16)的强度测量，测定所述测试物体(16)的吸收函数(a)，‑将所述能量区间(ΔEj)中的一个能量区间配置作为基准区间(ΔER1,ΔER2)，使得所述吸收函数(a)在所述基准区间(ΔER1,ΔER2)范围内具有可忽略的能量相关性，‑根据所述吸收函数(a)在所述基准区间(ΔER1,ΔER2)中的至少一个值测定用于至少一个另外的能量区间的所述吸收函数(a)的校正函数，并且‑根据所述校正函数校准所述X射线测量装置(10)。
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