[发明专利]扫描点云与数字CAD曲面位移偏差提取方法有效
申请号: | 201811508532.0 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN109783854B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 何建生;胡宾;王金枝;童子娟 | 申请(专利权)人: | 浙江深康汽车车身模具有限公司 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F30/10 |
代理公司: | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人: | 项军 |
地址: | 321399 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种扫描点云与数字CAD曲面位移偏差提取方法,包括如下步骤:步骤S1,将冲压件的数字CAD曲面在有限元分析软件中离散处理,并赋于有限元分析的材料属性;步骤S2,将上模和下模成型面的扫描点云在有限元软件中离散处理,定义为成形模的上模和下模;步骤S3,将离散的数字CAD曲面在扫描点云定义的上模和下模中成形,在成形过程禁止网格发生裂分细化处理,最后得到与扫描点云形状一致的数字CAD曲面网格;步骤S4,因为变形前后的曲面网格节点是一一对应的,可以从对应节点上提取扫描点云与数字CAD曲面的位移偏差信息。本发明可以得到扫描点云与数字CAD曲面的精确可靠的位移偏差。 | ||
搜索关键词: | 扫描 数字 cad 曲面 位移 偏差 提取 方法 | ||
【主权项】:
1.扫描点云与数字CAD曲面位移偏差提取方法,其特征在于包括如下步骤:步骤S1,将冲压件的数字CAD曲面在有限元分析软件中离散处理,并赋于有限元分析的材料属性;步骤S2,将上模和下模成型面的扫描点云在有限元软件中离散处理,定义为成形模的上模和下模;步骤S3,将离散的数字CAD曲面在扫描点云定义的上模和下模中成形,在成形过程禁止网格发生裂分细化处理,最后得到与扫描点云形状一致的数字CAD曲面网格;步骤S4,因为变形前后的曲面网格节点是一一对应的,从对应节点上提取出扫描点云与数字CAD曲面的位移偏差信息。
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