[发明专利]植被冠层叶面积指数测量方法

摘要

本发明提供了一种植被冠层叶面积指数测量方法，涉及植被冠层参数测量的技术领域。本发明提供的方法包括：将第一光强度传感器和第二光强度传感器分别设置于待测区域的植被冠层的上方和下方；记录待测区域的经纬度值；在同一时刻，第一光强度传感器和第二光强度传感器分别测得冠层的顶部和底部的阳光辐射强度值Q₀和Q₁，记录测量时刻的时间值和天顶角θ；计算天顶角为θ时的冠层间隙率：在一天中，进行多次测量和记录，得到天顶角θ在0‑π/2范围内的多个冠层间隙率值；计算该待测区域的植被冠层叶面积指数：通过本发明提供的植被冠层叶面积指数测量方法，缓解了现有技术中测量植被冠层叶面积指数所存在的测量效率较低的技术问题。

主权项

1.一种植被冠层叶面积指数测量方法，其特征在于，包括：将第一光强度传感器设置于待测区域的植被冠层上方，将第二光强度传感器设置于待测区域的植被冠层下方；记录待测区域的经纬度值；在同一时刻，第一光强度传感器测得冠层顶部的阳光辐射强度值Q0，第二光强度传感器测得冠层底部的阳光辐射强度值Q1，记录测量时刻的时间值；依据待测区域的经纬度值和测量时刻的时间值，得到该测量时刻的天顶角θ；计算天顶角为θ时的冠层间隙率：其中，P(θ)为天顶角为θ时冠层间隙率；在一天中，进行多次测量和记录，得到天顶角θ在0‑π/2范围内的多个冠层间隙率值；利用公式计算该待测区域的植被冠层叶面积指数：其中，LAI为冠层叶面积指数。