[发明专利]空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统在审
| 申请号： | 201811509021.0 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109708750A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 彭吉龙;于钱;聂翔宇;易忠;田东波;张凯;马子良;冯桃君 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统，该系统中，光源发出的光经过单色仪入射到真空系统中的匀化光学系统，形成准直均匀光束，入射到漫反射板上，漫反射板两侧设置标准探测器和电离层远紫外探测器，漫反射后的光线分别进入标准探测器和电离层远紫外探测器，通过数据采集系统获得数值结果，电离层远紫外探测器的计数值结果与光谱辐亮度瑞利值的比值，即获得电离层远紫外探测器的灵敏度。本发明的标定系统，结构简单，容易搭建，且能够减小远紫外光的能量损失，提高出射光线的均匀性，提高了光谱辐亮度瑞利值标值测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 电离层 远紫外 探测器 标定系统 探测器灵敏度 标准探测器 光谱辐亮度 漫反射板 数值结果 入射 瑞利 数据采集系统 出射光线 光学系统 均匀光束 两侧设置 能量损失 远紫外光 真空系统 灵敏度 单色仪 均匀性 漫反射 减小 匀化 准直 光源 | ||
【主权项】：
1.空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统，包括光源、单色仪、真空系统、匀化光学系统、标准探测器、标准探测器数据采集系统、电离层远紫外探测器、电离层远紫外探测器数据采集系统、光阑和漫反射板，其中，光源发出的光经过单色仪入射到真空系统中，在真空系统中进入匀化光学系统形成准直均匀光束，并入射到漫反射板上，漫反射板入射光线的两侧上对称设置标准探测器和电离层远紫外探测器，一侧漫反射后的光线经过光阑进入标准探测器中，标准探测器数据采集系统获得电压值结果，根据电压值计算获得光谱辐亮度瑞利值结果，另一侧漫反射后的光线进入电离层远紫外探测器，电离层远紫外探测器数据采集系统获得计数值结果，电离层远紫外探测器的计数值结果与光谱辐亮度瑞利值的比值，即获得电离层远紫外探测器的灵敏度。
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