[发明专利]基于S波片实现的电流测量方法在审
| 申请号： | 201811509046.0 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109521244A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 徐启峰 | 申请（专利权）人： | 龙岩学院 |
| 主分类号： | G01R15/24 | 分类号： | G01R15/24;G01R15/18 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 王怡敏 |
| 地址： | 364012 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于S波片实现的电流测量方法，属于电力系统高电流测量技术领域。采用光源和起偏器产生线偏振光，经过磁光薄膜，在磁场作用下线偏振光偏振面发生旋转，且旋转角度正比于待测电流大小，再经S波片和检偏器转换为具有暗纹的条形光斑的线性平移，最后通过PSD位移传感器测量光斑的位移量，即可实现电流的线性测量。优点在于：可以实现对法拉第磁致旋光角的直接线性测量，测量范围大，测量模式与光功率无关。 | ||
| 搜索关键词： | 电流测量 线性测量 偏振光 测量 测量技术领域 光斑 测量模式 磁场作用 磁光薄膜 磁致旋光 电力系统 条形光斑 线偏振光 线性平移 法拉第 高电流 光功率 检偏器 偏振面 起偏器 位移量 暗纹 光源 转换 | ||
【主权项】：
1.一种基于S波片实现的电流测量方法，其特征在于：光源（1）设置在起偏器（2）的一侧，起偏器（2）的另一侧设置磁光薄膜（3），S波片（4）置于磁光薄膜（3）和检偏器（5）之间，所述检偏器（5）的另一侧设置PSD位移传感器（6）；所述光源（1）出射的光经起偏器（2）起偏后得到线偏振光，经过磁光薄膜（3），在磁场作用下线偏振光偏振面发生旋转，且旋转角度正比于待测电流大小，经S波片（4）和检偏器（5）将线偏振光转换为具有暗纹的条形光斑，条形光斑随线偏振光偏振面的旋转直线移动，通过PSD位移传感器（6）测量条形光斑移动的距离，实现对待测电流的测量。
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