[发明专利]基于组合半波片实现的电流测量方法在审
| 申请号： | 201811509050.7 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109521245A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 徐启峰 | 申请（专利权）人： | 龙岩学院 |
| 主分类号： | G01R15/24 | 分类号： | G01R15/24;G01R15/18 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 王怡敏 |
| 地址： | 364012 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于组合半波片实现的电流测量方法，属于电力系统电流测量技术领域。由组合半波片、凸透镜、法布里珀罗干涉仪组成检偏系统，实现对法拉第磁致旋光角的线性测量，测量模式与光功率无关。线偏振光进入组合半波片后，形成分段旋转偏振光，经过法布里‑珀罗干涉仪后，抑制高阶模式并形成连续旋转偏振光。旋转偏振光可以看作是径向偏振光和切向偏振光的叠加，经过偏振片后形成带有暗纹的光斑。光斑的暗纹方向与偏振光的偏振面垂直。通过CCD图像传感器检测暗纹的旋转角度，可实现法拉第旋转角的线性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 半波片 暗纹 偏振光 旋转偏振光 光斑 电流测量 线性测量 干涉仪 凸透镜 测量技术领域 电力系统电流 法拉第旋转角 法布里珀罗 径向偏振光 切向偏振光 测量模式 磁致旋光 高阶模式 连续旋转 线偏振光 法布里 法拉第 光功率 偏振面 偏振片 检偏 叠加 分段 垂直 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于组合半波片实现的电流测量方法，其特征在于：由组合半波片（2）、凸透镜（19）、法布里‑珀罗干涉仪（4）构成径向检偏系统，实现对法拉第磁致旋光角的线性测量；线偏振光经凸透镜（19）、法布里‑珀罗干涉仪（4）被转换为具有暗纹的圆形光斑，暗纹的方向与线偏振光的偏振面垂直；通过检测光斑图像中暗纹的方向实现对偏振旋转角度的测量，从而得到待测电流。
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