[发明专利]基于条形径向偏振光栅实现的电压测量方法在审

专利信息
申请号: 201811509063.4 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN109669065A 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 徐启峰 申请(专利权)人: 龙岩学院
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R15/24
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 364012 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种基于条形径向偏振光栅实现的电压测量方法,属于电力系统高电压测量技术领域。采用光源和起偏器产生线偏振光,经过电光晶体与四分之一波片,使得线偏振光偏振面发生旋转,再经条形径向偏振光栅和检偏器转换为具有暗纹的条形光斑,最后通过PSD位移传感器或CCD图像传感器测量光斑暗条纹的位移量,即可实现电光相位延迟角的线性测量。优点在于:可以实现对电光晶体相位延迟的直接线性测量,测量范围不受晶体半波电压的限制;且测量模式与光功率无关,消除了光源功率波动和光路损耗等对互感器测量稳定性的影响。
搜索关键词: 偏振光栅 条形径向 电光晶体 电压测量 线偏振光 线性测量 测量 光源功率波动 四分之一波片 高电压测量 互感器测量 光斑 半波电压 测量模式 电光相位 电力系统 光路损耗 条形光斑 相位延迟 暗条纹 光功率 检偏器 偏振面 起偏器 位移量 延迟角 暗纹 光源 转换
【主权项】:
1.一种基于条形径向偏振光栅实现的电流测量方法,其特征在于:激光源(1)设置在起偏器(2)的一侧,起偏器(2)的另一侧设置电光晶体(3),四分之一波片(4)置于电光晶体(3)和条形径向偏振光栅(5)之间,PSD位移传感器或CCD图像传感器(6)设置在条形径向偏振光栅(5)的另一侧;所述激光源(1)出射的激光通过起偏器(2)得到线偏振光,电光晶体(3)在电场调制下变成双轴晶体,线偏振光进入电光晶体(3)后沿z轴方向分解为两个偏振方向正交的线偏振光o光和e光,由于两个偏振方向的折射率不同,o光和e光在电光晶体(3)内传播产生电光相位延迟,大小与待测电压成正比;o光和e光入射四分之一波片(4)并在其作用下合成线偏振光,将相位延迟转化为线偏振光偏振面的旋转;出射的线偏振光进入条形径向偏振光栅(5)形成条形光斑,当偏振面沿z轴方向逐渐转动时,条形光斑同步位移,并且保持原有的强度分布;经PSD位移传感器或CCD图像传感器(6)对光强图像定位得到最小光强的位置,从而得到光斑位移量和待测的电压值。
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