[发明专利]光学纱线传感器及其控制方法在审
| 申请号： | 201811509522.9 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109946228A | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | P.库萨里克;Z.贝兰 | 申请（专利权）人： | 里特机械公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/898 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;刘春元 |
| 地址： | 瑞士．*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光学纱线（3）传感器，其包括：辐射源（1），该辐射源被穿过光学元件（12）指引到用于纱线（3）通过的检测区域（2）；以及被指引到该区域（2）的具有纱线（3）参数的至少一个感测元件（4），由此，辐射源（1）包括至少两个辐射元件（11）并且连接到电源和控制块（5），并且感测元件（4）连接到控制和评估块（6），其中电源和控制块（5）以及控制和评估块（6）耦合到光学纱线（3）传感器的控制块（7）。辐射元件（11）中的至少两个发射相同辐射，并且光学元件（12）由用于使来自具有相同辐射的全部个体辐射元件（11）到检测区域（2）的一个部分的光束进行准直或轻微发散的光学元件形成，由此控制块（7）被提供有用于并行和顺序地控制具有相同辐射的每一个辐射元件（11）的装置。本发明还涉及控制这样的光学纱线（3）传感器的若干个方法。 | ||
| 搜索关键词： | 纱线 辐射源 辐射元件 传感器 感测元件 光学元件 检测区域 辐射 电源 个体辐射元件 光学元件形成 纱线传感器 耦合到 发散 评估 准直 并行 穿过 发射 | ||
【主权项】：
1.一种纱线（3）光学传感器，其包括：辐射源（1），其被穿过光学元件（12）指引到用于纱线（3）通过的检测区域（2）；以及具有纱线（3）参数的至少一个感测元件（4），其被进一步指引到该区域（2），由此所述辐射源（1）包括至少两个辐射元件（11）并且连接到电源和控制块（5），所述感测元件（4）连接到控制和评估块（6），其中所述电源和控制块（5）以及所述控制和评估块（6）耦合到纱线（3）光学传感器的控制块（7），其特征在于，所述辐射元件（11）中的至少两个具有相同辐射，并且所述光学元件（12）由用于使来自具有相同辐射的全部个体辐射元件（11）到所述检测区域（2）的一个部分的光束进行准直或轻微发散的光学元件形成，由此所述控制块（7）被提供有用于并行和顺序地控制具有相同辐射的辐射元件（11）中的每一个的装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于里特机械公司，未经里特机械公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811509522.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
