[发明专利]基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法在审
| 申请号： | 201811509724.3 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109520936A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 徐启峰 | 申请（专利权）人： | 龙岩学院 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23;G01N21/21 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 王怡敏 |
| 地址： | 364012 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法，属于工业测量技术领域。光源出射的光经起偏器起偏后得到线偏振光，通过透明物质时偏振面发生旋转，旋转角度的大小与旋光度成正比，线偏振光经过1/4波片后变为圆偏振光，即两束等振幅正交线偏振光o光和e光，由于晶体的双折射，通过晶体尖劈的o光和e光产生光程差，经检偏器产生干涉，转换为具有暗纹的条形光斑，条形光斑随线偏振光偏振面的旋转直线移动，移动的方向即为旋光方向，通过PSD位移传感器测量条形光斑移动的距离和方向，实现对透明物质旋光度的测量。优点在于：无运动器件、测量模式与光功率的大小无关、自动确定旋光方向、分辨率高，实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 条形光斑 线偏振光 尖劈 旋光度测量 透明物质 旋光度 旋光 干涉 测量 正交线偏振光 距离和方向 测量模式 工业测量 圆偏振光 直线移动 自动确定 成正比 光程差 光功率 检偏器 晶体的 偏振面 起偏器 双折射 无运动 分辨率 移动 暗纹 波片 出射 偏振 光源 转换 | ||
【主权项】：
1.一种基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法，其特征在于：光源（1）出射的光经起偏器（2）起偏后得到线偏振光，通过透明物质（3）时由于透明物质旋光性的作用使线偏振光的偏振面发生旋转，旋转角度的大小与旋光度成正比，线偏振光经过1/4 波片（4）后变为圆偏振光，即两束等振幅正交线偏振光o光和e光，由于晶体的双折射，通过晶体尖劈（5）的o光和e光产生光程差，经检偏器（6）产生干涉，转换为具有暗纹的条形光斑，条形光斑随线偏振光偏振面的旋转直线移动，移动的方向即为旋光方向，通过PSD位移传感器（7）测量条形光斑移动的距离和方向，实现对透明物质旋光度的测量。
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