[发明专利]基于S波片实现的电压测量方法在审
| 申请号： | 201811509745.5 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109521248A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 徐启峰 | 申请（专利权）人： | 龙岩学院 |
| 主分类号： | G01R15/24 | 分类号： | G01R15/24;G01R15/18 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 王怡敏 |
| 地址： | 364012 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于S波片实现的电压测量方法，属于电力系统电压测量技术领域。由光源、起偏器、电光晶体、四分之一波片、S波片、检偏器和PSD位移传感器组成。光源出射的光经过起偏器得到线偏振光，在待测电场的作用下，经过电光晶体和四分之一波片，线偏振光偏振面发生旋转，旋转的角度正比于电场的大小，出射线偏振光通过S波片和检偏器，将偏振面的旋转转换为条形光斑暗纹的水平移动；通过PSD位移传感器检测暗纹的位移量，得到偏振面旋转角度的大小，从而实现电压的测量。这一测量模式与光强无关，实现了电光相位延迟的线性测量，且测量范围不受电光晶体半波电压的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 电光晶体 四分之一波片 电场 电压测量 线偏振光 检偏器 偏振面 起偏器 暗纹 光源 测量 测量技术领域 出射线偏振光 电力系统电压 半波电压 测量模式 电光相位 条形光斑 线性测量 旋转转换 位移量 出射 光强 偏振 延迟 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于S波片实现的电压测量方法，其特征在于：光源（1）设置在起偏器（2）的一侧，起偏器（2）的另一侧设置电光晶体（3），四分之一波片（4）置于电光晶体（3）和S波片（5）之间；检偏器（6）的一侧为S波片（5），另一侧为PSD位移传感器（7）；所述光源（1）发出的光经过起偏器（2）得到线偏振光，并通过电光晶体（3）被分解为两个偏振方向正交的线偏振光o光和e光；由于两束偏振光的折射率不同，o光和e光在晶体内传播产生电光相位延迟；四分之一波片（4）将电光相位延迟转换为线偏振光偏振面的旋转，旋转的角度正比于电场的大小；从四分之一波片（4）出射的线偏振光经过S波片（5）和检偏器（6），形成具有暗纹的条形光斑；通过PSD位移传感器（7）检测光斑暗纹的位移量，得到线偏光偏振面旋转的角度，从而得到待测电压值。
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