[发明专利]激光多波长倍频检测装置在审
| 申请号： | 201811509835.4 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109682763A | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 吴先友;胡舒武;魏蒙恩;熊正东;姜芸芸;江健涛;王礼;程庭清;江海河 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;H01S3/00 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 任岗生 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种激光多波长倍频检测装置。它包括激光(1)光路上的倍频晶体(2)和光接收器(3)，特别是倍频晶体(2)为圆柱形，圆柱形倍频晶体(2)的晶体光轴与激光(1)垂直，且与同轴心的转轴(4)连接，光接收器(3)与圆柱形倍频晶体(2)的间距≥圆柱形倍频晶体(2)的焦距；所述的圆柱形倍频晶体(2)的侧面为抛光面，所述的转轴(4)为步进电机轴。它不仅结构简单、实用，也使用方便，还极大地简化了对晶体的加工难度和大大地降低了检测的成本，更是符合了高通量结构设计中的高通量快速高效的宗旨，使其极易于广泛地商业化应用于对倍频晶体的多波长检测。 | ||
| 搜索关键词： | 倍频晶体 激光 光接收器 检测装置 多波长 高通量 倍频 转轴 步进电机轴 多波长检测 商业化应用 晶体光轴 焦距 晶体的 抛光面 同轴心 垂直 侧面 检测 加工 | ||
【主权项】：
1.一种激光多波长倍频检测装置，包括激光(1)光路上的倍频晶体(2)和光接收器(3)，其特征在于：所述倍频晶体(2)为圆柱形，所述圆柱形倍频晶体(2)的晶体光轴与激光(1)垂直，且与同轴心的转轴(4)连接；所述光接收器(3)与圆柱形倍频晶体(2)的间距≥圆柱形倍频晶体(2)的焦距。
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