[发明专利]一种基于测试性模型的序贯故障诊断方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811510099.4 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN109471766B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 沈大伟 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/34
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于测试性模型的序贯故障诊断方法及装置,所述方法具体包括:通过预先建立关于设备的故障模式以及测试的矩阵;设置所述设备故障诊断的最小模糊度N;根据矩阵和已知的测试状态的测试计算待测集合;通过判断待测集合中元素个数与最小模糊度N的大小关系,来确定故障诊断结果,若判断到待测集合中元素个数大于最小模糊度N,则继续计算与待测集合中的故障模式相关的未知测试状态的测试集合,从测试集合中推荐目标测试并执行,返回计算待测集合的步骤,直至判断到待测集合中元素的个数小于或等于最小模糊度N时结束。从而实现自动定位和隔离故障,故障诊断结果准确合理,同时,适用于多种复杂设备的故障诊断,适应性强。
搜索关键词: 一种 基于 测试 模型 故障诊断 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于测试性模型的序贯故障诊断方法,其特征在于,所述方法包括:S1,获取设备的故障模式以及所述设备相关的测试,根据所述故障模式和所述测试建立矩阵,所述矩阵的行对应所述故障模式,所述矩阵的列对应所述测试;S2,设置所述设备故障诊断的最小模糊度N,所述最小模糊度为故障诊断结果中包含的最小故障模式数量,其中,N为正整数;S3,根据所述矩阵确定测试状态为失败的测试所对应的故障模式,形成第一故障模式集合,以及根据所述矩阵确定测试状态为成功的测试所对应的故障模式,形成第二故障模式集合,计算所述第二故障模式集合在所述第一故障模式集合中的相对补集,得到待测集合;S4,当所述待测集合为非空集合且元素个数小于或等于所述故障诊断的最小模糊度N时,跳转至S6;或者,当所述待测集合为空集合时,则提示无故障模式;或者,当所述待测集合为非空集合且元素个数大于所述故障诊断的最小模糊度N时,则根据所述矩阵确定所述待测集合中故障模式对应的所有测试,将其中测试状态未知的测试形成测试集合;若所述测试集合的元素个数等于0时,则跳转至S6;若所述测试集合的元素个数等于1时,则推荐所述测试集合中的测试为目标测试,跳转至S5;若所述测试集合的元素个数大于1时,则根据预设的测试规则从所述测试集合中推荐所述目标测试,跳转至S5;S5,执行所述目标测试,以及获取所述目标测试的测试状态,跳转至S3;S6,确定所述待测集合中的故障模式为所述设备的故障诊断结果。
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