[发明专利]基于二分类器的分类识别特征映射方法在审
| 申请号： | 201811512493.1 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109740635A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 石君;刘华巍;吕伟;王艳;张欣轶;郑斌琪;李宝清;袁晓兵 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人： | 宋缨;钱文斌 |
| 地址： | 200050 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于二分类器的分类识别特征映射方法，包括以下步骤：分别统计用于训练分类器系数的各类目标特征每一维特征的高斯分布情况；分别统计相对于训练分类器系数的各类目标特征发生特征偏移的情况下各类目标特征每一维特征的高斯分布情况；根据统计得到的高斯分布情况对特征偏移前后两种情况下每个二分类器中每一维特征分别构建分布映射关系。本发明能够避免因特征偏移而致使分类识别准确率大幅度降低的情况发生。 | ||
| 搜索关键词： | 分类识别 高斯分布 目标特征 特征偏移 一维特征 二分类 训练分类器 映射 统计 映射关系 准确率 构建 | ||
【主权项】：
1.一种基于二分类器的分类识别特征映射方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)分别统计用于训练分类器系数的各类目标特征每一维特征的高斯分布情况；(2)分别统计相对于训练分类器系数的各类目标特征发生特征偏移的情况下各类目标特征每一维特征的高斯分布情况；(3)根据统计得到的高斯分布情况对特征偏移前后两种情况下每个二分类器中每一维特征分别构建分布映射关系。
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