[发明专利]一种SSD内实现的闪存寿命预测方法有效
| 申请号： | 201811514746.9 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN109634527B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘政林;周新;鲁赵骏;张海春 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SSD内实现的闪存寿命预测方法，包括：(1)获取待测闪存芯片的特征量；(2)对特征量中的一种或几种进行运算操作，得到运算处理值，将特征量及运算处理值构成集合，取集合中的子集输入到预测模型中获得数据处理结果；(3)根据数据处理结果对预测模型进行训练，从而实现对所述预测模型的更新；(4)根据数据处理结果以及更新后的预测模型对闪存芯片的寿命进行预测，获得所述闪存芯片的寿命预测值。本发明通过实时采集每次SSD操作的数据作为预测和训练的输入，更加贴合实际SSD上的闪存使用情况，得出的预测结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ssd 实现 闪存 寿命 预测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种SSD内实现的闪存寿命预测方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)获取待测闪存芯片的特征量，所述特征量包括闪存的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、芯片功耗、阈值电压分布、存储块编号、存储页号、闪存当前经历过的编程/擦除周期数、条件错误页数、条件错误块数、错误比特数和错误率；(2)对所述特征量中的一种或几种进行运算操作，得到运算处理值，将所述特征量及所述运算处理值构成集合，取集合中的子集输入到预测模型中获得数据处理结果；(3)根据所述数据处理结果对所述预测模型进行训练，从而实现对所述预测模型的更新；(4)根据所述数据处理结果以及更新后的预测模型对闪存芯片的寿命进行预测，获得所述闪存芯片的寿命预测值。
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