[发明专利]半导体器件的熔丝锁存器有效
申请号: | 201811516589.5 | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN110910943B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 千德秀 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C29/52 | 分类号: | G11C29/52;H03K3/356;H03K19/003 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;郭放 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种半导体器件的熔丝锁存器。所述熔丝锁存器包括多个PMOS晶体管和多个NMOS晶体管以锁存熔丝单元数据。在熔丝锁存器中,PMOS晶体管形成在单个P型有源区中,以及NMOS晶体管在P型有源区的一侧布置成两级结构。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 熔丝锁存器 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司,未经爱思开海力士有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811516589.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。