[发明专利]光学测量装置有效
| 申请号： | 201811516896.3 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN110260784B | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 奥田贵启;丸川真理子;森野久康 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种进一步提高了测量对象物的位置的检测精度的光学测量装置。本发明的光学测量装置包括：光源(10)，输出多个波长的光；传感头(100)，包括将经由包含多个纤芯的导光部(50)所入射的光转换成平行光的转换透镜(110)、及将产生了色差的光照射于测量对象物(200)的物镜(130)；以及分光器(30)，经由导光部(50)而获取经测量对象物(200)反射并由传感头(100)聚光的反射光，测量反射光的光谱；且传感头(100)中，以抑制从导光部(50)所含的多个纤芯(202)中的一个纤芯出射的光作为反射光而入射至一个纤芯以外的纤芯的方式，在转换透镜(110)与物镜(130)之间配置有遮蔽光的遮蔽物(S)。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学测量装置，包括：光源，输出多个波长的光；传感头，包括转换透镜及物镜，所述转换透镜将经由包含多个纤芯的导光部所入射的所述光转换成平行光，所述物镜将产生了色差的所述光照射于测量对象物；以及分光器，经由所述导光部而获取经所述测量对象物反射并由所述传感头聚光的反射光，测量所述反射光的光谱，所述传感头中，以抑制从所述导光部所含的所述多个纤芯中的一个纤芯出射的光作为所述反射光而入射至所述一个纤芯以外的纤芯的方式，在所述转换透镜与所述物镜之间配置有遮蔽光的遮蔽物。
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