[发明专利]使用了等离子体离子源的质量分析在审
| 申请号： | 201811531964.3 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109975385A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 杉山尚树;大森美音子;中野和美 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;H01J49/26 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 张永玉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及使用了等离子体离子源的质量分析，为了考虑质量分析装置的质量偏置效应而针对干扰元素的二价离子对由使用了离子体离子源的质量分析装置测定的分析元素的测定离子的光谱干扰进行修正，使用该干扰元素的同位素之中具有不同的奇数的质量数的两个同位素的二价离子的离子强度的测定值。在用于获取被应用本发明的修正方法的测定值的测定中，优选将该质量分析装置的质量分辨率设定为高于通常的分析时的值。 | ||
| 搜索关键词： | 质量分析装置 等离子体离子源 二价离子 质量分析 同位素 离子 质量数 修正 离子体离子 质量分辨率 光谱干扰 偏置 优选 分析 应用 | ||
【主权项】：
1.一种修正光谱干扰的方法，其中，所述光谱干扰是干扰元素的二价离子对由使用了等离子体离子源的质量分析装置测定的、试样中的分析元素的测定离子的干扰，当在所述试样中存在具有三个不同的同位素的至少一种干扰元素、其中任意两个同位素(将这两个同位素分别称为“第一同位素”、“第二同位素”，将另一个同位素称为“第三同位素”)具有奇数的质量数的情况下，所述方法包括以下步骤：针对所述至少一种干扰元素，使用所述试样中的所述第一同位素的二价离子的离子强度的测定值、以及所述试样中的所述第二同位素的二价离子的离子强度的测定值，并计算所述第三同位素的二价离子对所述分析元素的测定离子的光谱干扰的干扰量；以及从由所述质量分析装置测定的、所述试样中的分析元素的测定离子的质量电荷比中的离子强度的测定值中，减去针对所述至少一种干扰元素计算出的干扰量，并求出所述分析元素的测定离子的质量电荷比中的离子强度的修正值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安捷伦科技有限公司，未经安捷伦科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811531964.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种检测岩石中金属分布率的方法
- 下一篇：一种用于镉同位素测量的高效分离方法
